ellipsométrie ADDN
Bonjour,
Je voudrais savoir si il était possible de mesuré l'indice de réfraction "n" d'une couche composé d'ADN + Glutaraldéhyde superposé à une couche de nitrure?
20 nm d'ADN + Glutaraldéhyde sur 50nm de nitrure de silicium
Comment peut on effectuer cette mesure si cela est possible??
Salut!
Cela fait 2 ans que tu as posté ce message à ce que je vois. Je suis actuellement en train de me poser exactement la meme question. Alors si depuis, tu as pu avoir une réponse, cela m'intéresse fortement.
A bientot !
Avaricum
Bonjour.
Je pense qu'il doit être possible de mesurer le coefficient de réflexion de la couche.
Mais comme la couche est sûrement sur un support, il faut aussi mesurer le coefficient de réflexion du support.
Puis, par un calcul, déduire l'indice de réfraction de la couche.
Pour rappel, le rapprot entre les intensités réfléchie et incidente est:
où n1 est l'indice du milieu et n2 l'indice de la couche.
Au revoir.
Merci pour votre réponse, je vais étudiez ça de plus prêt...
