Bonjour, est-il vrai de dire que les noyaux lourds qui décroissent uniquement par capture électronique devrait avoir globalement un temps de demi-vie plus court que des noyaux plus légers (décroissant eux aussi uniquement par capture électronique) ? L'hypothèse vient du fait qu'un noyau lourd va avoir les électrons les plus internes de son cortège électronique plus « proches » du noyau et donc vont avoir une probabilité de présence dans le noyau plus grande que pour des noyaux plus légers (pour lesquels les électrons internes sont plus « loin »). Mes cours de physique atomique sont partis un peu loin mais de mémoire même si ce raisonnement est fait avec les mains, je crois qu'il se vérifiait également par le calcul (je n'ai pas le temps de rechercher pour le moment).
Du coup si c'est vrai, pourquoi n'est ce pas ce que l'on observe :
Sur cette image, j'ai tracé le temps de demi-vie de tous les noyaux décroissants uniquement par capture électronique en fonction de leur numéro atomique Z. Les données proviennent de NNDC. J'ai juste tracer bêtement l'ensemble des données donc il y a peut-être une manière plus intelligente de faire mais globalement je m'attendais à voir une baisse globale du temps de demi-vie en fonction du Z. Or, là ça semble relativement plat.
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