Photoluminescence et ellipsométrie des couches minces

[invitec85befb9]

Bonsoir à tous,

Ayant à faire un sujet sur les techniques de caractérisation optique des couches minces, j'aurais deux questions (si vous voudriez bien y répondre ) concernant la photoluminescence :

Si je comprends bien, la photoluminescence désigne la capacité que possède un matériau à émettre un photon après une excitation d'énergie supérieure à celle de la transition radiative. De ce fait :

1) Pourquoi chercherait-on à mesurer la photoluminescence d'une couche mince ? Quelles seraient ses applications ?

2) Par quel dispositif pourrait-on la mesurer ? S'agit-il simplement de placer un photodétecteur lors de l'émission par le matériau d'un rayonnement ?


Concernant l'ellipsomètrie : il semble que cette technique permette entre autres de mesurer l'indice de réfraction n et le coefficient d'extinction k . Pour l'indice n j'ai vu qu'on pouvait le calculer en déterminant expérimentalement l'angle de Brewster.
Mais pour ce qui est de k, comment pourrait-on procéder ?
Mon professeur m'a également dit qu'il s'agit de tracer la caractéristique n et k = f() et de les comparer à des modèles existants. Toutefois je n'ai pas saisi cette méthode.

En vous remerciant par avance pour vos réponses.

Bien cordialement.
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[invite50625854]

Ta question est mal posée je crois...
caractérisation optique des couches minces -> L'ellipsomètrie est une technique parmi d'autre.
Il en existe PLEIN d'autre !!!

1) Pourquoi chercherait-on à mesurer la photoluminescence d'une couche mince ? Quelles seraient ses applications ?
Si tu te poses la question, c'est que tu as des idées, sinon pose cette question à ton professeur.
En vrai, c'est que mieux on comprends son environnement mieux on le gère.

2) Par quel dispositif pourrait-on la mesurer ? S'agit-il simplement de placer un photodétecteur lors de l'émission par le matériau d'un rayonnement ?

En fonction de tes moyens ! SURTOUT !
Plus sérieusement, je t'invite à t'interroger sur n et k.
Tu cherches à déterminer n et k -> 2 inconnues, mais tu as 1 seule équation ? Peut être que l'équation est dans C (le plan complexe)...

Bon courage, je peux pas plus t'aider mais si tu m'en dis plus sur ta mesure je te craches n et k comme je te parle.

Le photoluminescence, c'est juste hors de propos là. (Mais on la garde en tête)

[invite50625854]

mode TE et TM en incidence sur ta couche bidule...
ça va t'aider
Ensuite n et k
Et puis la photoluminescence tu gardes ça pour la fin.

Concernant l'ellipsomètrie : il semble que cette technique permette entre autres de mesurer l'indice de réfraction n et le coefficient d'extinction k . Pour l'indice n j'ai vu qu'on pouvait le calculer en déterminant expérimentalement l'angle de Brewster.
Si tu as un ellipsomètre, l'angle de Brewster tu l'oublis. Ce qui est EST interessant avec l'ellipsométrie c'EST la mesure de n et k.

SIMULTANÉMENT !...