Bonjour, j'ai un TD de chimie inorganic à rendre et il me reste a repondre une question:
Après analyse le 2 diffractograme du telure en poudre, l'un sur silicium et l'autre sur verre (amorphe), les intensites et les longeurs de raies sont totalement differents. Si quelqu'un à une idèe de pourquoi?
Merci pour vôtre aide.
Envoyé par chimikju
beee, ce sont des solides totalement differents...
le verre est amorphe, une XRD donne une grosse patate;
le tellure : hexagonal P 3121 avec a=4,447, c=5.915 angstrom
le silicium : cubique Fd3m avec a=5.431 angstrom
.....peu de chance que ca donne les memes diffractogrammes....
T-K
If you open your mind too much, your brain will fall out (T.Minchin)
woups, sorry, j'avais mal lu la question...qui est mal ecrite...
bon, de toute facon, le support diffracte aussi; et peut entrainer des interactions avec la diffraction du tellure. Minime avec le verre, ce sera principalement de l'absorption; avec le silicium, ca peut etre un peu plus comique avec des raies supplementaires, des absorptions-additions selectives eventuelles; fluorescence ?!?....
mais bon, generalement, moi c'est verre ou PVC ou autre support bien amorphe pour etre sur que ce genre de chose n'arrive pas (sauf silice orientee; parfois pour des raisons bien specifiques)
T-K
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