Mémoriser un état
Bonjour à tous,
J'aimerais tester une connexion et je pensais le faire avec le principe suivant :
Alimenter l'entrée et mettre une led en sortie comme ça, s'il y a un court-circuit sur la ligne, la led s'éteint.
Le truc, c'est que je me demande comment faire pour que la led reste éteinte une fois qu'il n'y a plus de cc sur la ligne...
Et pour qu'on puisse réutiliser le système, comment gérer un éventuel reset?
Merci d'avance pour votre aide
Tu peux donner le schéma que tu penses faire ?
Un relais électronique ou electromécanique peut mémoriser l'erreur. Tu disposes de quelle tension d'alimentation?
Ci-joint le "schéma". Je pensais utiliser ce même principe pour tester toutes les lignes (ce qui est mon but) .
Au niveau tension d'alimentation je suis totalement libre.
Re : Mémoriser un état
Re,
Pour être plus précis dans ma demande d'informations:
Je désire tester toutes ces lignes en mêmes temps. À la fin du test, je dois pouvoir savoir si une des lignes à été court-circuitée à la masse ou si des lignes se sont court-circuitées entre elles...
Je dois pouvoir garder l'information "d'erreur" même si le court-circuit est apparu et a disparu...
Je me demande donc si je dois utiliser de l'électronique "pure" (j'ai toute les liberté au niveau des tension d'alim.), utiliser une logique programmable de type ELPD ou créer un soft...
Personnellement et pour des raisons de couts, je prefererais utiliser de l'électronique "pure" mais sans y être forcé...
C'est un testeur de câble ? il faut aussi tester l'indépendance des fils.
Salut Daudet, merci de ton investissement.Envoyé par DAUDET78
En effet, c'est un peu comme un testeur de câble mais qui ne doit pas "QUE" me donner des infos en direct sur les éventuels c-c mais qui doit me signaler s'il y a eu un soucis après x heures sans être obligé de rester devant à regarder les petites leds...
Merci d'avance
Pas clair ... ton besoin!
Si il y a un défaut, on le voit immédiatement. Précise ta manip exacte.
J'aimerais créer une électronique qui me permette de tester la continuité, un éventuel court-circuit avec la masse et/ou avec une autre ligne; le tout sur chacune des 13 liaisons de mon câble. Le câble étant sous diverses contraintes mécaniques, il se peut qu'un c-c apparaisse puis disparaisse...
Ce test doit durer 5 à 6 heures, c'est pourquoi j'insistais sur la nécessité de pouvoir lancer le test, revenir 6 heures après et observer un reporting d'erreur basique (erreur ou pas d'erreur) avec des leds par exemple.
Le testeur de câble me dira s'il y a une erreur mais ne dira pas s'il y a eu une erreur et qu'elle a disparu.
J'éspère m'avoir bien expliqué mon françé
Donc c'est un testeur de câble .....
Tu fais une scrutation avec un décodeur 1/16 de tes fils et tu regardes si le résultat en sortie correspond au stimuli d'entrée (il manque un "1", fil coupé : Il y a un "1" en trop, il y a un court circuit). tu fais un data logging des anomalies.
Mais tu es bon pour un µC ou pour un PC ....
Pour détecter des des micro (faux)contacts transitoires, les systèmes séquentiels sont inadaptés, il faut une méthode purement parallèle.J'aimerais créer une électronique qui me permette de tester la continuité, un éventuel court-circuit avec la masse et/ou avec une autre ligne; le tout sur chacune des 13 liaisons de mon câble. Le câble étant sous diverses contraintes mécaniques, il se peut qu'un c-c apparaisse puis disparaisse...
Ce test doit durer 5 à 6 heures, c'est pourquoi j'insistais sur la nécessité de pouvoir lancer le test, revenir 6 heures après et observer un reporting d'erreur basique (erreur ou pas d'erreur) avec des leds par exemple.
Le testeur de câble me dira s'il y a une erreur mais ne dira pas s'il y a eu une erreur et qu'elle a disparu.
J'éspère m'avoir bien expliqué mon françé
Tu peux t'inspirer des systèmes de test multiconducteurs comme celui en exemple, mais mettre des LEDs d'optocoupleurs.
Ensuite, tu peux traiter les sorties: si tu veux juste une info de court-circuit non spécifique, tu chaines toutes les sortie en série, et tu attaques une entrée de bascule.
Si tu veux une info spécifique, tu récupères toutes les sorties dans un circuit latch, et parallèlement, tu fais un AND qui commande le strobe: d'après le pattern mémorisé, tu pourras déduire entre quelles lignes s'est produit le dernier court-circuit.
Pour détecter une coupure, tu peux ajouter des LEDs "horizontales", entre les pins de même ordre de chaque éxtrémité: si l'une s'allume, la connection s'est interrompue.
Pour la détection, même principe que pour les CC, mais en logique inversée.
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
C'est purement une question de vitesse d'échantillonnage. Si on tourne à 10Khz, faut que le mauvais contact soit vachement malin pour y échapper !
Les défauts sont malins, Murphy veille au grain. En particulier pour les micro-coupures en présence de vibrations aléatoires, pour des contacts qui dépendent de l'élasticité d'une matière. Lorsqu'une sécurité absolue est nécéssaire, la solution est souvent de doubler ou de multiplier les contacts.
Il faut voir s'il y a un cahier de charges précis: si un défaut de 100µs est tolérable, un scanning à une fréquence de 2n/100e-6 est acceptable.
De toutes manières s'il s'agit d'implémenter une solution stand-alone à partir de rien, comme cela semble le cas ici, l'option parallèle est plus simple.
Si par contre il faut partir de systèmes de test standard, ce sera pratiquement obligatoirement séquentiel, et il faudra tenir compte du temps de rafraichissement.
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
Salut,
Je tenais à vous remercier pour ces informations. je n'étais pas présent ces derniers jours et n'ai pas eu le temps de le faire avant.
Je vais regarder plus en détails vos réponses.
Encore merci pour votre aide
Bonjour,
En pièce jointe, le schéma que je pensais réaliser selon vos conseils. Ai-je bien compris le principe?
Désirant récupérer des informations spécifiques sur le type de problème et sur quelle(s) ligne(s) il s'est produit, je pensais récupérer les infos de toutes les sorties et des les traiter par soft avec des CASE.
Par contre, avec 13 lignes à tester, la table logique sera TRÈS TRÈS grande...J'imagine donc que je vais devoir scanné tous ces CASE très rapidement et donc utiliser un très bon PC
.
Je n'ai pas de cahier des charges précis et comme vous dites il s'agit d'une solution stand-alone donc un défaut de 100 µs est largement acceptable...
Cependant, je me suis aperçu que certains résultats n'étaient pas fiables à 100% (en rouge dans la table logique) comme par exemple:
Ligne 1 à la masse => 0000 mais on ne sait pas ce qui se passe sur les autres lignes.
Suis-je à la rue si j'opte pour une telle solution?
Si tu optes pour une solution scannée avec un timing non-critique, il vaut mieux le faire directement: les optocoupleurs n'ont plus beaucoup de raison d'être.
Ils sont avantageux si tu veux quelque chose de vraiment stand-alone, avec juste un peu de logique pour mémoriser les défauts. A partir du moment où tu veux faire un scanning pour explorer chaque résultat, ça perd de son intérêt.
A la rigueur, il serait possible de faire un sytème mixte, basé sur des interruptions: à chaque fois qu'un défaut est signalé, le PC vient lire l'état des bascules et les remet ensuite à 0.
Pour l'interprétation des résultats, il n'est pas nécéssaire de faire une table de vérité: une ligne ouverte est signalée par sa LED, et un court-circuit entre deux lignes par les LEDs de valeurs mini et maxi encore allumée. Un petit algo fait cela de manière bien plus compacte qu'une table de vérité monstrueuse.
On suppose qu'il n'y a pas de défauts multiples à interpréter (ils seront détectés, mais pas identiifiés).
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
PS
Quelque soit la méthode retenue, il ne sert à rien de viser un système totalement universel, capable de détecter et d'identifier toutes les combinaisons possibles de défauts: premièrement, ce n'est pas possible, il y aura toujours des combinaisons indécidables, et deuxièmement ce n'est pas utile: il faut partir du principe que l'on a à la base un câble bon, avec éventuellement un ou des défauts.
Ce qui est essentiel, c'est de savoir qu'il y a un (ou plusieurs) défauts, et ensuite éventuellement de pouvoir le localiser, s'il est seul.
A priori, si un câble doit être retravaillé suite à une anomalie, il faudra lui refaire passer un test, et si un défaut a été raté lors de la première passe, il sera détecté à la deuxième (ou aux suivantes, si le câble n'est pas définitivement rejeté).
Mais les défauts multiples devraient être des exceptions, et considérés comme tels (ou alors, il y a un souci à la production).
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
Salut Tropique,
Merci pour ta précieuse aide, c'est sympa
En suivant tes conseils, je me suis tourné vers un diagramme permettant de détecter si le cable (composé de 13 lignes):
- Est OK
- Comporte un c-c (quel qu'il soit)
- Comporte une ligne coupée.
Je pense utiliser une carte E/S numérique et je me vois confronter à mon 2ème problème:
Tu dis que l'utilisation d'opto-coupleur n'a plus lieux d'être.
Mais qu'est ce que je dois utiliser comme composant et comment les dimensionner? J'ai vu que la carte accepte 91 µA max en entrée et j'ai pas envie de la cramercar elle coûte chère.
Je suis un peu (même totalement) perdu car je dois gérer le fait qu'il faille un courant suffisamment grand pour faire "fonctionner" tous les composants (si toutes les lignes sont OK); mais en même temps un c-c à la masse peut autant se produire sur la 1ère ligne que sur la dernière... Donc cela fait potentiellement des sacrées différences de tension et de courant...
Je sais pas si je suis clair...
D'abord, pas de panique, les 91µA, c'est vraisemblablement le courant d'entrée maxi absorbé.
Tant que tu restes dans les limites de tension, tu ne devrais pas avoir de problèmes.
A ce stade, à toi de décider ce que tu veux faire: soit tu utilises 13 entrées et 13 sorties de carte ES, et tu fais une petite routine qui "allume" chaque sortie l'une après l'autre, et contrôle que les entrées sont bien identiques, indéfiniment, soit tu fais un circuit à opto coupleurs, avec deux groupes, en // pour les circuits ouverts et en série pour les CC et deux bascules pour mémoriser le défaut. Tu pourrais également aller directement vers deux entrées, mais ce serait idiot, ce sera beaucoup plus performant avec un supplément de hard négligeable.
Et dans ce cas, le PC n'est même plus nécéssaire: tu peux mettre deux ou trois LEDs.
Il faut s'assurer des détails pratiques: tension de saturation et courant de fuite des optos, etc, mais c'est sans grand problème.
De même si tu scannes, il faut des résistances de pull-down raisonnables, que les sorties puissent attaquer, mais qui fournissent assez de courant aux entrées sans changer l'état logique au être trop sensible au bruit.
Tout cela n'est normalement pas très contraignant. A toi de voir.
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
Salut Tropique et encore merci pour ton aide.
Bon, avec tous tes conseils, je pense arriver au bout du "dévellopement".
Je vais opter pour la version "avec deux groupes, en // pour les circuits ouverts et en série pour les CC".
Je vais quand même garder le PC car je voudrais compter les éventuelles erreurs et stocker ces résultats dans un fichier informatique.
C'est la raison pour laquelle je pensais utiliser de "simples" portes logiques dont les sorties seront connectées à 2 entrées de la carte E/S, comme ça dès qu'il y a un soucis, je la comptabilise.
Niveau dimensionnement, j'ai pris le 1er optocoupleur que j'ai trouvé (KB844):
1- Sur le datasheet, j'ai vu que Vf=1.4 Vmax; utilisant 13 led opto j'arrive donc à 18.2 Vmax (coupure de ligne peu probable) et j'ai donc choisie une alimentation de 24V.
2- À partir de là et sachant que l'opto-coupleur à une Ic max = 50 mA, et que le pire cas de figure est que la ligne 2 soit c-c à la masse (il n'y aurait donc qu'1 seule led opto alimentée) j'ai calculé une résistance min de 480 et donc choisie une R=510 Ohm.
3- Au niveau des Résistances de pull-up/pull-down placées avant les portes logiques, je pensais utiliser des valeurs standards de 10k...
Penses-tu que cette solution tienne la route?
OK pour l'alim en 24V.
Pour l'attaque des LEDs, je pense qu'il vaut mieux employer une source de courant, il n'y a plus aucune contarinte: voir schéma.
Au niveau réception, il est préférable d'employer des triggers de schmitt (et tu as fait une erreur au niveau de la polarité de ta logique).
Un exemple de groupement des sorties d'opto et de logique de sortie ci-dessous.
Si en plus tu mets des monostables derrière les sorties, tu pourras capturer des défauts très fugitifs.
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
Hum hum...
Concernant la source de courant:
En me basant sur:
http://forums.futura-sciences.com/el...tml#post339306
J'ai fais mes calculs sur une base de 40 mA. J'ai choisis une zener de 3.3V et je trouve bien un résultat de R1=68Omh.
1- Mais comment dimensionnes-tu R2 sur ton schéma?
2- Sur ton schéma, je peux virer R3, non?
"Au niveau réception, il est préférable d'employer des triggers de schmitt":
Tu parles de la réception de la porte logique ou de la carte E/S?
C'est pour une question de sureté que tu conseilles l'emploi de trigger?
"Si en plus tu mets des monostables derrière les sorties, tu pourras capturer des défauts très fugitifs. ":
Tu parles des sorties des opto-coupleurs ou des portes logiques?
J'aurais du préciser que D1 est une LED qui sert de référence à la source de courant; elle a l'avantage de compenser au premier ordre le coéfficient de T° du transistor, et elle peut servir d'indicateur de mise sous tension et d'indicateur d'anomalie: si le CCS n'est pas chargé, elle ne s'allume pas.
Avec une LED rouge, il y aura une vingtaine de mA dans les optos (non-crtique).
Il n'est pas utile de frôler le max en mettant 40mA, avec 20 ce sera déjà plus que robuste.
R2 est calculée pour faire passer une dizaine de mA dans la LED de référence, ce n'est pas critique non plus.
R3 n'a pas d'utilité apparente, mais je recommande cependant de la monter: le montage a beaucoup moins de chance de malfonctionner si un GSM effectue une transaction à proximité, et les diodes de l'opto et le transistor ont plus de chance de survivre à des cycles de connection/déconnection: les câbles ont des capacités parasites qui peuvent causer des décharges à courant élevé si le courant n'est pas limité par un composant passif.
D'une manière générale, il faut essayer d'éviter de mettre directement une broche de semiconducteur ou IC sur un connecteur.
Les 74HC132 sont des triggers de schmitt; ils permettent d'avoir des flancs nets, même si l'entrée est bruitée ou hésitante.
Les sorties finales OPEN et /SHORT: ta carte d'E/S n'est normalement pas capable de prendre en compte des états trop élusifs, mais un monostable permettra de rallonger n'importe quel événement, à 100ms p.ex. et tu seras sur que rien n'a été raté (la limite sera celle des optos, de l'ordre de la µs)."Si en plus tu mets des monostables derrière les sorties, tu pourras capturer des défauts très fugitifs. ":
Tu parles des sorties des opto-coupleurs ou des portes logiques?
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
Salut Tropique,
Bon bah c'est parfait, j'ai finis le schéma et tout compris, grâce à toi
Encore une fois merci pour toute cette aide et pour le temps que tu as consacré pour répondre à toute mes questions.
A bientôt.
