Bonjour à tout le monde
Je souhaite mesurer une capacité corrélée avec de petites distances . L'ordre de la précision de la mesure doit être de 0.4pF sur une gamme de mesure allant de 100pF à 3nF. L'erreur maximale tolérée est donc de 0.4pF sur toute la plage. Après avoir passé en revue plusieurs solutions je me suis arrêté sur un oscillateur dont la fréquence dépend de la capacité. Plutôt que de créer simplement un multivibrateur astable à base de trigger de Schmitt par exemple, je l'ai combiné avec une source de Howland pour bénéficier un courant constant quelque soit le cycle de charge ou la capacité testée. Ainsi, la tension aux bornes de la capacité en test est une droite, ce qui permet de rendre les erreurs de seuils plus négligeables.
La sortie "out" est modifiée pour pouvoir être envoyée sur un microcontrôleur qui se charge de mesurer la période du signal.
Même si le montage fonctionne plutôt bien, ma période subit quelques variations. Avec l'exemple ci-dessus, la période est de 756 µs (à l'oscilloscope) mais varie légèrement, de l'ordre de 1 à 2 µs visible seulement lorsque l’oscilloscope est configuré en mode détection de glitch. Cette variation me laisse perplexe.
Je ne comprends pas quel défaut pourrait engendrer une variation lorsque la capacité ne varie pas. J'ai toutefois pu constater que la droite de charge Uc n'est pas toute a faite droite justement ! Je pense que cela est dû aux petites différences des résistances R1,2,3,4. Les AOPs utilisés sont un AD845 pour la source de Howland et un AMP03 pour le trigger (les 25k sont internes au CI). J'ai aussi rajouté les condensateurs sur les alimentations des AOP (2.2µF // 0.1µF).
L'utilisation d'une PLL améliorerai-t-elle les chose ?
Je n'exige pas une réponse aboslue mais simplement que vous puissiez m'orienter sur les investigations que je dois mener !
Merci d'avance
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