Bonjour à tous,
je travaille actuellement sur un projet de métrologie optique où je cherche à établir l'erreur et la répétabilité du système en question (Senseur de front d'onde Shack Hartmann),
je suis confronté à un petit problème.
J'ai actuellement 600 mesures réparties comme suit : 10 échantillons de 30 mesures (une mesure le matin et une l'après midi du lundi au vendredi)
Pour chaque mesure j'ai une valeur PV (Max - Min) et un RMS (Root-Mean-Square), tout deux en nanomètres
Pour chaque échantillon j'ai donc une moyenne et un écart-type pour le PV et le RMS
Pour calculer l'erreur de mesure, j'ai analysé les échantillons mais pour la répétabilité je suis un peux coincé, je n'arrive pas à distinguer la meilleurs façon de l'exprimer (en nm).
Avez vous une idée ?
Merci
SColaux
EDIT : j'ai comme consigne que les erreurs et la répétabilité doit être à un sigma
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