Interprétation histogramme en KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)

[Mist78]

Bonjour,

Je m’intéresse aux analyses KPFM mais j'ai du mal à comprendre l'interprétation des résultats.

Le logiciel WSxM rélié à l'AFM permet de visualiser les images topographique (classique AFM) et celles obtenus par mesures de CPD (KPFM). Il permet aussi d'avoir une représentation de la distribution des valeurs de CPD mesurée sur la surface sondé (qu'il présente sous la forme d'un histogramme généralement). Et de cet histogramme les chercheurs arrivent à obtenir des informations sur la composition de la surface. C'est cette partie que je ne comprends pas. Comment font-ils ?

Il est difficile de trouver des articles en français sur la KPFM, mais même en anglais j'ai du mal à trouver des explication sur la lecture de ces histogrammes. Pourriez vous m'aider svp ?

Merci d'avance.
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[gts2]

Si la pointe et le substrat (reliés électriquement) sont de matériaux différents, la différence de potentiel de Volta entre les deux crée une force électrostatique.
Il "suffit" alors d'appliquer une ddp entre la pointe et le substrat qui annule cette force. La ddp appliquée est la différence de potentiel de Volta entre les deux matériaux.
Ce potentiel de Volta est caractéristique du matériau, on peut donc caractériser celui-ci.
Le diagramme doit indiquer les valeurs de ces potentiels, et comme il y a deux pics, le substrat est constitué de deux types d'"élément", et peut être que la hauteur (ou l'aire sous la courbe des pics) donne la proportion.
http://oatao.univ-toulouse.fr/7821/1/lacroix.pdf page 52 sqq
http://kummelgroup.ucsd.edu/pubs/paper/110.pdf page 7 : détection de K+ et Cl-

[Mist78]

Bonjour,

Tout d'abord merci pour votre réponse et les articles que vous avez partagé, cela m'a beaucoup aidé à mieux voir les choses.

Effectivement la ddp que l'on applique compense et est donc égale à la différence entre les travaux de sortie de la pointe de l'afm et de la surface de l'échantillon. Je n'avais pas pensé que c'était cela qui permettait d'avoir des info sur la composition.

Mais du coup une autre question me vient : pensez vous que cela permet d'identifier les éléments par la valeur de la CPD (et que donc il est possible de trouver des tables répertoriant ces valeurs comme on peut en trouver en spectroscopie IR et Raman par exemple), ou alors que cela ne permet que de distinguer la présence de différent éléments lorsque le graphique montre différents pics ?

[gts2]

Dans
https://people.utm.my/zalilah/using-...rrosion-study/
on voit un lien entre les potentiels SKP et les potentiels électrochimiques.
Je suppose malgré tout qu'il y a un pb d'étalonnage.

[A voir en vidéo sur Futura]