Bonjour à tous !
J'ai quelques petites questions dont je n'ai pas réussi à trouver la réponse sur internet.
La première concerne les microscopes à force atomique (AFM).
Lorsque la pointe est en oscillation verticale, on détecte alors la topologie de l'échantillon à étudier. Mais par contre, lorsque l'on observe une déflexion latérale du levier, qu'est-ce que ça signifie ?? Ça détecte quoi exactement ? Des forces de frottements ? A quoi ça sert de les mesurer ?
La seconde question concerne les vibromètre laser à effet Doppler (LDV en mode heterodyne avec un décalage en fréquence entre le rayon témoin et le rayon de mesure de disons 40MHz).
J'aimerais bien savoir quelle est la fréquence de vibration maximale que ce type d'instrument est capable de mesurer ? Est-ce que l'amplitude intervient dans la mesure de la fréquence ? (Plus l'amplitude est petite et plus le rapport signal sur bruit diminue et donc, moins bonne est la mesure ?)
Enfin, dernière petite question : imaginons que l'on veuille utiliser un cantilever très petit pour l'AFM. Si petit que les modes de vibrations sont à des fréquences très élevés avec une faible amplitude de mouvement et donc non détectable via l'interféromètre.
Je souhaite quand même détecter la fréquence de de ce cantilever. Comment puis-je arrivé à un résultat ? Pensez-vous qu'en plaçant ce cantilever avec son échantillon dans un microscope à ion (FIM), (la pointe du cantilever faisant office de pointe ionisant le gaz) ça me permettrait de détecter cette fréquence (grâce à la projection des ions sur l'écran ?)
Merci à vous !
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