Bon, j'avoue que la dernière question que j'ai posée était compliquée.
Alors voici une question, je l'espère, plus simple: Comment mesurer l'épaisseur d'un film d'échelle nanométrique ?
Plus précisément, un film "spin-coaté" (déposé par dépôt centrifuge...) de l'ordre de 10 ou 100 nm d'épaisseur.
J'ai essayé d'utiliser un surface profiler (profileur?) et de comparer les niveaux du substrat et du film... ça ne marche pas très bien pour des raisons que je vous épargnerai.
J'ai pensé à utiliser un ellipsomètre, mais je doute de pouvoir calculer l'épaisseur pour un film composé de nanocristaux recouvert de molécules organiques, car la permittivité électrique n'est pas la même partout, et d'ailleurs, je ne la connais pas... (en plus, je crois que les nanocristaux ont un moment dipolaire...).
Que me suggérez-vous ? (conseil concernant ces deux méthodes, alternatives?)
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