Chère communauté,
J´ai actuellement un problème et j´aimerai savoir si quelques personnes ont des idées.
Mon fournisseur me fourni un matériau multicouches (6 couches au total en comptant le substrat pour une épaisseur de 0,1 mm) en forme de ruban (censé etre homogène sur la longeur) que j´utilise pour réaliser le produit phare de l´entreprise.
La couche qui m´est utile est un matériau réalisé par épitaxie à haute température d´épaisseur environ 20 microns (donné dans le CDC du fournisseur) et située en 2e position par rapport à la surface du ruban (recouvert d´argent, que je peux aisément retirée par attaque chimique H2O2+NH3).
Cependant le produit que j´obtient n´est pas de la qualité souhaitée, et après mesure je me suis rendu compte que les mesures éffectuées sur le ruban n´étaient pas homogènes.
Après m´etre demandé de où ca pouvait venir, je pense que ca peut venir de la variation d´épaisseur de la couche utile.
Je souhaite donc mesurer cette épaisseur par Diffraction des rayons X, j´ai pensé à faire une différence d´absorbtion mais je ne vois pas comment en déduire l´épaisseur.
Je suis équipé d´un diffractomètre Bragg-Brentano en configuration theta-2theta, et je peux réaliser des scans en Lock Couple, unlock couple, Rocking curve, phi-scan, chi-scan, x-scan,....
Si quelqu´un a une idée pour que j´avance, je suis preneur.
Cordialement
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