Slt, J'ai un projet à propos de la modélisation des composants passifs R , L et C.J'ai arrivé à déterminer le modèle équivalent de chacun de ces composants , mais, j'ai pas réussit à trouver une méthodes analytique ou expérimentale qui permet de déterminer les paramètres de chaque modèle et leurs relation en fonction de la fréquence .
Je serai très reconnaissant si vous m'aidiez à résoudre ce projet .
Merci d'avance .
question un peu vague.....
en continu , une résistance n'est qu'une résistance, et , quand on monte en fréquence , il va apparaitre une self parasite en série , self dépendant de la technologie de fabrication de la résistance.
pour les condos , il apparait une résistance parasite , notée souvent ERS (Equivalent Resistor Serie) ou que l'on mesure par l'angle de perte Tg δ (tangente delta).
les seules infos valables sont les catalogues des fabricants qui donnent ces infos.
sinon , dés qu'on est particulièrement difficile pour des applications spécifiques , il ne reste que le pont de mesure ou l'analyseur de réseau, pour modéliser le comportement des composants dans des conditions particulières.
Merci pour votre aide .Pouvez vous me montrer comment peut on utiliser l'analyseur de réseau pour déterminer ces paramètres .
j'attende votre réponse
en en lisant le mode d'emploi....Envoyé par Faroukking
C'est généralement indispensable pour des instruments de cette complexité.
Il y a normalement deux options: celle de base qui consiste à choisir le format correct pour l'affichage du paramètre s11, exemple impédance pour le schéma équivalent série (R+jX), ou admittance pour la version //.
On n'a pas besoin de savoir de quel type est le composant mesuré, on obtient juste les valeurs brutes (en ohms et pF p.ex.) en fonction de la fréquence, représenté dans une abaque de Smith p.ex.
L'autre option est plus sophistiquée, mais nécéssite un appareil (et un opérateur) "évolué", capable de faire du "de-embedding", càd mettre les valeurs numériques dans un schéma équivalent qui lui est fourni, plus compliqué qu'une simple représentation à deux éléments.
Dans ce dernier cas surtout, il est indispensable de potasser les notes d'applications, et de préférence participer à un séminaire ciblé sur l'appareil et l'application spécifique.
C'est un domaine ardu, surtout si l'on tient compte des difficultés de calibration aux fréquences élevées, et il vaut mieux avoir eu quelques exemples réels avant de se lancer en solo.
Il faut au minimum faire des tests et vérifications sur des cas simples et contrôlables indépendamment avant de valider la méthode, le set-up, et donc les résultats.
Pas de complexes: je suis comme toi. Juste mieux.
