Entrées d'un ampli en court-circuit avec l'alimentation de celui-ci (fondu)

[biloux911]

Bonjour,

J'ai un problème avec le composant EL5172 il arrive que celui-ci crame pendant les tests. Quand je dit crame, ce qu'il se passe c'est qu'à l'intérieur du boitier, les pistes d'alimentations fondent et viennent en court-circuit avec les pastilles connectées aux entrées Vin+ et Vin- (les C.C. sont entre Vin+ et l'alim négative -5V et Vin- avec +5V, c'est l'un où l'autre mais jamais les deux à la fois) ce n'est pas moi qui effectue ces tests et je ne sais donc pas précisément les manipulations effectuées. Ce qui est sur c'est que sur le schéma je ne vois ni résistance sur les entrées Vin+, Vin- ni diodes de clamp.

Ma question est la suivante, est-ce qu'un dépassement des tensions de mode commun à l'entrée de l'ampli peut le détruire ainsi (provoquer ces court-circuits).

Voici le schéma interne simplifié : j'imagine que les sources de courant et les résistances sont faites avec des transistors et que donc une tension inverse sur les jonctions peut mettre en C.C. les alims et les entrées. Est-ce que avec le peu d'info que je vous ai donné vous pouvez déjà avoir un avis sur la crédibilité de l'hypothèse ?

Merci
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ce qu'il faudrait voir , c'est le schéma de l'application utilisée.

[biloux911]

Merci de vous pencher sur mon problème.
J'ai mis rapidement le schéma sous paint mais il ne me semble pas qu'il apporte grand chose. Je n'ai pas encore rassemblé les infos sur les caractéristiques des signaux vidéo utilisés et c'est ce qui me semble le point critique (c'est bâlo !)

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mais il ne me semble pas qu'il apporte grand chose.

c'est à nous d'en juger

[A voir en vidéo sur Futura]

[biloux911]

Et c'était à moi de ne pas oublier de le joindre à mon message

[biloux911]

Les images des pistes détériorées à l'intérieur de la puce :
failure1.JPGfailure1zoom.JPG Vin+ avec Vs-

et
failure2.JPGfailure2zoom.JPG Vin- avec Vs+

[Tropique]

Ce qui est sur c'est que sur le schéma je ne vois ni résistance sur les entrées Vin+, Vin- ni diodes de clamp.

Ma question est la suivante, est-ce qu'un dépassement des tensions de mode commun à l'entrée de l'ampli peut le détruire ainsi (provoquer ces court-circuits).

Oui, absolument. Et le schéma publié est très simplifié: en pratique il y a nombre de composants parasites, créés pour la plupart comme sous-produits non-désirés du process, au nombre desquels il y a presque toujours des jonctions vers le V+ et le V-.

Dans cette optique, le rating de 0.3V de dépassement peut sembler restrictif: avec des diodes, on s'attendrait au double; on peut penser à de la prudence dans les specs, mais il n'y a peut-être pas que ça: les processes un peu performants comme cet IC ont souvent des contraintes, parce que le passage des rails d'alim peut provoquer des effets de champ, amorcer des structures parasites, etc.

Il faut donc s'arranger pour clamper les dépassements avant qu'ils n'arrivent aux entrées (ou à n'importe quelle pin d'ailleurs).

D'autre part, si les entrées sortent de la carte, il faut toujours mettre des composants pour "casser" des chemins basse impédance qui ne limitent pas le courant en cas de mauvaise séquence de mise sous/hors tension, de décharge statique, etc.

D'une manière générale, il faut au moins une couche de résistances+diodes, avec la résistance aussi élevée que le permettent les autres contraintes.

[biloux911]

Merci beaucoup,

J'ai lu pas mal de chose sur le latch-up et le second breakdown. Dans le cas ou des signaux d'entrée
seraient activés avant que l'ampli soit alimenté on violerait cette limite de Vss+0,3 et donc éventuellement activerait ces mécanismes destructifs. Une décharge ESD pourrait également être déclencheur. J'avais pensé aussi à une non-adaptation d'impédance, si des signaux de tests sont "calés" sur des valeurs transmises sur des 75 Ohm mais connectés directement ils sont deux fois plus grand en tension. Encore merci.