Microscope Electronique a transmission

[invited4abeacd]

Bonjour,

J'étudie actuellement le MET et je rencontre quelques difficultés à comprendre certains des phénomènes en rapport avec la diffraction des électrons, l'imagerie en champ clair et en champ sombre. Je voulais donc savoir si quelqu'un pourrait m'aider. Mes questions sont très ciblées j'espère que vous pourrez m'aider!
D'avance merci.
Je commence...

J'ai relativement bien compris de quelles façons on obtenait le mode champ clair et le mode champ sombre. Si je ne dis pas de betises, le mode champ clair s'obtient en plaçant un diaphragme laissant passer uniquement le faisceau transmis (très intense), et le champ sombre s'obtient en sélectionnant un faisceau diffracté (une tache de diffraction dans le plan d'observation des taches de diffraction) (faisceau moins intense). Seulement je ne comprends pas exactement qu'est ce qui apparaitra en champ clair ou en champ sombre dans le mode image et donc quel est l'effet de la sélection d'un ou de plusieurs de ces faisceaux. Le fait que je ne peux pas expérimenter sur un appareil TEM ne me facilite pas la tâche pour comprendre...

En ce qui concerne les clichés de diffraction (mode diffraction), je n'arrive pas à bien comprendre de quel façon on peut déterminer quelle tâche correspond à quelle famille de plans d'indice hkl, en d'autre terme je ne vois pas comment les indexés, lorsque je n'ai que pour donnée la direction du faisceau (l'orientation cristalline choisie pour la direction du faisceau). J'ai vaguement compris le concept de sphère d'Ewald et de l'intersection de cette sphère avec les zones de Laue.

J'ai essayé de comprendre avec l'ouvrage TEM de Ludwig Reimer (Springer Verlag) (il y fait un rappel de cristallo et des effets de la diffraction) mais je trouve pas très clairs ses explications.

Voila j'espere que quelqu'un pourra m'aider, j'espere avoir été le plus clair possible étant donné le fait que pour moi cela reste assez confus.

Merci n'hésitez pas a me repondre en MP ou ici (ce qui reste le mieux pour qued'autres dans mon cas y trouve des réponses à leurs questions).

A+

PS: Si vous avez un site ou l'on a des clichés de diffraction et que l'on explique quelle tache a été sélectionné pour obtenir telle résultat en mode image n'hésitez pas a m'indiquer les liens.
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[invited4abeacd]

Bon pas grand monde apte à me répondre visiblement! Je up au cas où... Si la discussion est pas placé dans la bonne thématique faites le moi savoir!

Merci!

[invited4abeacd]

Ok alors personne ne me répond mais j'ai trouvé des éléments de réponse alors je m'auto-réponds au cas où ça intéresse quelqu'un d'autre aussi.

Le mode champ clair s'obtient en sélectionnant le faisceau transmis. Ce faisceau a légérement perdu de son intensité car il y a eu des pertes par "réflexions" sur les plans cristallins. Ainsi l'image apparaitra claire partout sauf au niveau du réseau cristallin ou elle apparaitra sombre.
En champ sombre on sélectionne un faisceau diffracté (réfléchi par une famille de plan) en excluant le faisceau transmis. On observe donc l'image en clair de cette famille de plan cristallin.

Pour l'indexation du cliché de diffraction ça me parait quasi insurmontable de l'indexer sans avoir d'infos sur le cristal en question. Par contre la connaissance des parametres de l'appareil (chemin équivalent et orientation du cristal) et par la connaissance du cristal (type de réseau + parametres de maille) permet de connaitre les extinctions et les distances projetées entre chacune des taches. Une fois indexé on peut choisir sa tache préférée pour observer en image réel les plans cristallins. Pour avoir connaissance du cristal en question je pense que l'XRD en diagramme de poudre ou en cristal tournant (le mieux) sont adaptés pour obtenir ces informations.

Voila! Si ca interesse qqun! ...et si qqun n'est pas d'accord faites le savoir :P