Bonjour,
Dans un exo, on définit une structure MOS constituée d'un métal (Aluminium), d'un isolant (SiO2) et d'un semi conducteur de type P (Silicium). Le travail de sortie de l'aluminium estet celui du Si
. On précise d'autre part que l'isolant est supposé parfait (pas de charges à l'interface, ni dans l'oxyde).
On me demande de déterminer l'expression deet d'en déduire la concentrations d'accepteurs
du semi conducteur de la structure.
Déjà, je crois savoir que dans le cas idéal, ce qui est le cas ici, on a. Concernant l'expression de
, je ne sais pas quelle expression est attendue (celle en fonction des différents niveaux des bandes d'énergie?), celle qui permet de remonter à la concentration d'accepteurs...
En espérant que vous pourrez m'aider, merci d'avance.
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 et celui du Si 
 Et je n'aime pas trop appliquer une formule "parachutée" comme ça.. à moins que vous puissiez me la démontrer?  Et ne l'ayant pas dans mon cours, je doute que notre prof tienne à ce qu'on utilise cette formule, mais si elle est tout à fait valable; il doit y avoir une autre technique! 
