Ellipsométrie/ SiO2/ Atome de Lorentz
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Ellipsométrie/ SiO2/ Atome de Lorentz



  1. #1
    invite66ac4c45

    Ellipsométrie/ SiO2/ Atome de Lorentz


    ------

    Bonjour à tous !

    Assez récemment, j'ai eu l'occasion d'utiliser un ellipsomètre avec Winelli pour exploiter les données, pour m'amuser j'ai essayé de faire l'inverse de ce qui se fait habituellement, je m'explique

    Après avoir déterminé l'épaisseur d'un échantillon de SiO2 avec l'ellipsomètre et la donnée des propriétés optiques de l'air, du SiO2 et du substrat ( du Si), j'ai voulut retrouver les propriétés diélectriques du SiO2 grâce à winelli en connaissant l'épaisseur de l'échantillon et dans le cadre du modèle atomique de Lorentz (Électron élastiquement lié, force dissipative), à la fin winelli me donne la valeur d'une constante A ( je ne voit pas bien ce qu'elle représente...), la valeur de la constante d'amortissement, et une longueur d'onde ( en eV), le problème c'est que j'ai plein de zones d'ombre et que je n'est plus accès à la doc de winelli...


    Mes questions sont:

    -Un utilisateur régulier de winelli (ou pas) pourrait il me dire à quoi correspond la constante A ?
    -Quelqu’un saurait il ou trouver le manuel d'utilisation de winelli sur le web ?
    -A quoi correspond la longueur d'onde qu'il me renvoi à la fin, à la fréquence propre de vibration du ressort ?


    Ps: J'avais aussi essayé un modèle de Gauss, mais maintenant que j'y pense, je ne me rappel pas qu'il existe un modèle de Gauss de la polarisabilité, qu'est ce que ça peut être ?

    Encore une fois, beaucoup de questions ! Merci pour votre patience et vos réponses !

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  2. #2
    invitea05220eb

    Re : Ellipsométrie/ SiO2/ Atome de Lorentz

    Bonjour

    Je peux vous répondre assez precisement a votre question, puisque je connais bien le logiciel Winelli
    pourriez vous me donner votre email afin de vous répondre en direct

    Merci

    Jean Philippe

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