Bonjour,
J'ai quelques questions par rapport à l'utilisation de la méthode de Scherrer pour mesurer la taille des cristallites à partir de la largeur des pics de diffractions en XRD.
Déjà, est-ce que je peux l'utiliser sur des XRD de céramiques ? Je l'avais fait pour des polymères mais jamais autre chose.
Quelle est la différence entre cristallite et grains ? J'obtiens des tailles de cristallites de 0.2 à 0.8 microns ce qui me semble bien trop petit pour les grains (entre 10 et 30 microns plutôt selon du SEM). J'ai vu que ça pouvait concerner les particules avant frittage (enfin j'ai pas vraiment compris) et là ça pourrait aller (ma taille de particules pré-frittage est inférieure à 1 micron).
Aussi, je sais pas trop comment choisir la constante K, j'ai vu que 0.94 était souvent pris mais il faut assumer une forme sphérique et mes grains ne sont pas du tout sphériques de ce que je vois au SEM (forme irrégulière). Après apparemment, y a une différence entre grains et cristallites. Pourtant, il me semblait que c'était la même chose et je ne comprends pas trop la différence.
Merci d'avance.
-----